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通过

HRTEM

的高分辨衬度条纹,可以量出相应的晶面间距为

0.5nm

,可以对材料的

PDF

卡片看下这个间距对应的是哪个晶面的晶面间距,

这样就可以把条纹所代表的晶面确定下来。

最下面的

SAED

点比较杂乱,

可能是所选区处含有多种晶向的晶体,

因此可能会得到几种方

向斑点重合的的

SAED

。你所测得的

0.297nm

0.387nm

都是对的,但是对应于不同的晶

面衍射,究竟是对应哪个还是需要对比

PDF

卡片数据进行指认。

你这里的

HRTEM

SAED

并没有很明显的对应关系,可能原因是打

HRTEM

是区域较小,

但打

SAED

时选区包含的晶粒较多,

又出现不同取向造成的。

或者他们根本就不是在一个地

方打的。

FFT

结合

HRTEM

可以进一步确定晶体的晶面及取向信息。

HRTEM

量得的明显的条纹间距就是

0.5nm

。你也可以用电子尺通过标尺来量取间距。一

次可以量

10

个,然后再平均。正常情况同样晶面得到的晶格条纹间距是应该相等的,如果

你量取的值出现与标准值有差别的情况,

如果差得不多是正常的,

还要再结合

SAED

指认晶

面。或者看

FFT

的点分布能与什么样的拍摄几何构型对得上。总之当一种图片里信息不好

确定情况下,要采用其它佐证。

关键要对

FFT

中的点进行标定,

这也要结合

HRTEM

如果测试结果正确,

分析过程没问题,

HRTEM

的晶格条纹是会给出可信的晶面信息的,然后看

FFT

可以看出晶面的对称信息。从

你这个

FFT

可以看出与电子束入射方向平行的晶面应该是有六方对称存在的,只不过电子

束方向在实际测试时并没有与这些晶面都很好地平行,所以测得的

HRTEM

并不理想,只有

一种晶面看得最清楚。

这张图照得很好,可以同时看到两种晶面的信息,竖条的如果是(

220

,那么横条就是与

之成近

90

度的另一晶面。都需要测量,然后给标定出来,如果横条的与竖条间距一致,那

么说明这两个是同一族晶面,正常标定就可以了。

HRTEM

所测得的条纹间距,就是相应晶面的晶格间距。

SAED

打出的六方感觉的点不一定

就说明材料是六方相,我们知道对于立方相的(

111

)方向打

SAED

就是很完美的六方点,

但材料本身是立方相。关键要看电子束是从晶体的哪个面入射的。

SAED

的多晶环,每个环

对应一种晶面,但

HRTEM

要想照出很好的晶格对电子束与晶体之间的角度是有关系的。所

以有时候就算晶体很薄,电子束可以透过,也可能会出现

HRTEM

打不出晶格的情况,或者

只能打出一种晶面的晶格条纹。

HRTEM

FFT

有对应关系,但与测的

SAED

除非晶体很完

美,如果是纳米晶,一般就很难有完美的对应。

1.

L*λ

叫相机常数,依赖于不同的仪器。

2. r

是用直尺所量的长度

所以,很明显,这是老仪器的套路。

要把图置于真实尺寸下量取距离,带入公式即可计算。

现在是

ccd

成像,

scale bar

直接在照片上,量出来的中心点至衍射点的距离,就直接是

d

值的倒数,

按你的图,即

1/nm

3.

中心点就是圆心。

4.

标衍射点,请先做理论计算或者叫

模拟

,按你的晶体结构

jcpds77-2042

进行,晶