1、file——open——文件类型改成all files，找到自己需要的图片——打开如1
2、格式转换：edit——change data type——选integer——OK——OK
3、测量比例尺：鼠标放到比例尺左下角滚动滚轮，即可放大图片——鼠标右键，换成使用虚线（如2）——拉出一条和比例尺一样长度得线（如3）——microscope——calibrate image——输入比例尺对应的长度和单位（如4）——OK
4、测量晶格条纹：在需要测量晶格条纹的位置放大——右键鼠标，切换为矩形——框住对应晶格条纹区域（按着ctrl和shift框为正方形如5）——progress——FFT出现6所示得两个亮点——右键鼠标，选择spot（如7）——在右上角亮点上单击会把两个亮点选中——progress——inverse FFT得到如8——在新出现的图片上右键——点最后一个profile——拉出一条垂直于晶格条纹的线（如9）会弹出新的蓝色图片——拖动上面拉的线的终点，使蓝色峰高度基本一致——在蓝色图上框出几个相对一致的峰，用出现的长度除以峰的个数即为晶格条纹间距，如10，本例中晶格条纹间距为0.193nm
