对未知物成分分析常用手段及特点介绍

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未知成分分析、配方还原、检测分析、异物分析、产品研发

未知成分分析 是通过综合分析手段对未知的成分进行定性和定量分析，为科研、配方研究、产品开发、改进生产工艺提供科学依据。为企业的生产有、研发提供科学的支持。大家常用到的分析手段如下，每种分析技术都有自己的特点和应用方向（后附部分结果展示）。

分析方法	应用范围	分析特点
FTIR	研究物质的化学结构，确定物质的组成结构（分子结构、官能团等特征信息），广泛应用于部分无机物、有机物、高分子聚合物、药品、生物材料、矿物等材料的分子结构分析，适合分析有机材料。	1.检测的典型极限是 100 nm 的膜厚2.检测限：1-10wt％（已知组分的定量）；5-20％（识别未知成分）3.ATR 深度解析：0.1~1µm
Raman	提供样品化学结构、相和形态、结晶度及分子相互作用的详细信息，适合分析有机材料。	1.采集深度：~1-5µm2.检测限：1wt%
GC-MS	广泛应用于复杂组分的分离与鉴定，适宜分析有机小分子、易挥发、热稳定、不易分解、不易反应、300℃左右能汽化的化合物，特别适合用于同系物、同分异构体的分离。	1.检测到信号：分子离子和特征碎片离子2.检测到元素：分子离子高达 m / z 8003.检测限：约 1 ng 引入色谱柱4.对于液体基质，低至中 ppb 级别，对于固体基质，低至纳克级–动态顶空分析
HPLC	适合分析高沸点、热稳定性差、相对分子量大（大于 400 以上）的有机物。
TOF- SIMS	适合分析无机，有机材料，全元素的定性半定量分析（定量分析需要标样），以及同位素，分子结构，化学键分析，可以进行深度剖析。	1.空间分辨率：0.07µm2.采集深度：0.1-2nm3.成分检出限：ppm4.采集信息：元素 H~U，同位素、分子结构、化学键
XPS	适合分析无机，有机材料，元素的定性半定量分析，以及化学态分析，可以进行深度剖析。	1.空间分辨率：7.5µm2.采集深度：0.5-7.5nm3.成分检出限：0.1atom%4.采集信息：元素 Li-U，化学态
ICP MS	固体，液体，表面污染物，可浸出物和可萃取物的痕量和超痕量元素分析。	1.检测限 ppb-ppm
XRD	物相分析；晶粒尺寸；小角散射；晶格常数测定；结晶度测定；残余应力测定；薄膜厚度测量；摇摆曲线测量。	1.采集深度：1-3µm2.无法识别非晶材料3.检测限：1atom%
TGA	常用于测定物质在熔融，相变，分解，化合，凝固，脱水，蒸发，升华等特定温度下发生的热量和质量变化，广泛应用于无机，有机，材料等领域。
EDS	适合分析无机材料，元素的定性半定量分析。	1.空间分辨率：0.1µm2.采集深度：1-3µm3.成分检出限：0.1atom%4.采集信息：元素 B-U
XRF	B-U 范围元素定性定量分析，适合分析无机材料。	1.采集深度：1-3µm2.采集信息：B-U (WDXRF); Na-U(EDXRF)3.检测限：大多数元素 1 ppm-100 ppm
AES	适合分析无机材料，元素的定性半定量分析以及部分化学态分析，可以进行深度剖析。分析固体材料表面纳米深度的元素（部分化学态）组成，可以对纳米级形貌进行观察和成分表征。既可以分析原材料（粉末颗粒，片材等）均匀表面组成，又可以分析材料特定微区结构或特定产品表面缺陷如污染，腐蚀，掺杂，吸附、晶界杂质偏析等，还具备深度剖析功能表征钝化层，掺杂深度，纳米级多层膜层结构等。	1.空间分辨率：8nm2.采集深度：0.5-7.5nm3.成分检出限：0.1atom%4.采集信息：元素 Li-U，部分化学态
GD-MS	进行高纯材料（金属，合金，石墨，电子材料，氧化物和陶瓷等）的全元素含量测试。	1.一次性提供从 Li-U（C，N，O，H 除外）的所有元素含量2.检测限：ppb~ppm 级