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透射电镜
不同类型的透射电镜测试样品的收费标准有哪些？
成分分析158，配方还原7651，产品研发6667，检测私信
在材料学中，透射电镜是测试材料表面微观形貌、粒径、成分以及分布的不可或缺的工具。中科院沈阳自动化研究所提出了一种基于深度学习的通用框架，用于对扫描电子显微镜以及透射电镜所产生图像中的纳米颗粒形貌进行快速、准确地在线统计分析。 透射电镜在实际测试过程中，根据不同的样品以及测试要求，最终测试价格也不同。 [图片] 透射电镜 一、非磁性、磁性粉末/液体透射电镜 项目介绍： 1. 主要用于无机材料（粉体）微结构与微区组成…
球差透射电镜测试服务的收费标准和样品要求
成分分析158，配方还原7651，产品研发6667，检测私信
球差透射电镜是透射电镜的一种，相比普通TEM透射电镜，由于球差矫正的介入使其分辨率更高，能够观测样品更精细化的结构，常常用于材料科学、物理学、基础医学、化学工程领域。球差透射电镜作为一种高端的物体精细结构观测仪器，测试收费价格也是较高的，但针对样品的不同略有差异。 [图片] 球差透射电镜测试收费标准 聚光镜球差电镜AC-STEM和物镜球差透射AC-TEM测试的收费标准有按小时、按测试需求和样品件数等多种收费模式，其中按样…
背散射电子衍射装置样品标准以及具体分析功能
成分分析158，配方还原7651，产品研发6667，检测私信
背散射电子衍射装置(EBSD)：是扫描电子显微镜(SEM)的附件之一，它能提供如晶间取向、晶界类型、再结晶晶粒、微织构、相辨别和晶粒尺寸测量等完整的分析数据。EBSD数据来自样品表面下10-50nm厚的区域，且EBSD样品检测时需要倾转70°，为避免表面高处区域遮挡低处的信号，所以要求EBSD样品表面“新鲜”、清洁、平整、良好的导电性、无应力等要求。 [图片] 背散射电子衍射装置样品标准包括以下几点： 1.样品尺寸大小不超过8X8mm，厚度不超…
低电压透射电镜（TEM）测试前的制样要求
成分分析158，配方还原7651，产品研发6667，检测私信
[图片] 低电压透射电镜（TEM）测试前的制样要求分为以下几点： 1.不需要稀释的液体样品需要准备0.3毫升以上，最好1毫升，用2毫升左右ep管装并封口胶封好口；注明样品成分和类型，预期形貌和尺寸；一般会拍摄10张左右的照片； 2.默认染色制样方式：取10微升液体滴铜网，用1%磷钨酸(或饱和醋酸铀)染色制样并清洗，室温干燥制样后放置一个小时以上；细菌、真菌、病毒、外泌体、细胞、脂类、胶束、蛋白默认吸附5到10分钟，染色1分钟，不超…
原来透射电镜(TEM)的明场像、暗场像、中心暗场像是这么回事
一家专业的电镜检测服务机构
什么是明场像、暗场像？●明场像：用物镜光阑选择透射束成像时，获得的电子显微像称为明场像（BF：bright field image） ●暗场像：通过移动物镜光阑选择一个衍射束成像称为暗场像（DF：dark field image） ●中心暗场像：如果保持物镜光阑孔位于光轴上，用偏转线圈将选定的衍射束偏转到荧光屏中心，令其通过物镜光阑形成的像是中心暗场像（CDF：centre bright field image） [图片] （备注：物镜光阑位于物镜后焦平面上，可以遮挡散射…
带你了解透射电镜（TEM）制样方面基础知识
一家专业的电镜检测服务机构
本期了解一下制备好的TEM样品是什么样？如何检验样品制备的质量好坏？TEM样品制备是一个很广泛的课题，具体方法的选择取决于需要获得什么信息、时间限制、现有设备、操作者的技术及所用材料等; 但不管用什么手段或者方式，有一点是非常重要的， 即“ 选用的方法不能影响到观测的内容，或即便影响了，必须知道是如何影响的”。 [图片] 问题1：制备好的TEM样品是什么样的？在回答这个问题之前，我们不妨来了解一下透射电镜的样品杆（以中…
JEM-2100F（可做磁性）
JEM 2100F 是一款先进的透射电子显微镜，在同类显微镜中，它的分析功能最强、获得的图像质量最高。束斑尺寸在0.5nm以下，可以快速地获得超高分辨率图像，使原子尺度的结构分析更简便。 设备功能 基础研究、显微形貌观察、固体物质微结构研究、高分辨显微术、晶体结构及晶体缺陷分析、物质微区元素成分测定。 主要参数 （1）分辨率：点分辨率0.19nm，线分辨率0.10nm （2）加速电压：200kV （3）电子枪类型：肖特基场发射电子枪 （…
【直播】透射电子显微镜样品制备技术分享
传播科学、分享科学、服务科学
题目：透射电子显微镜样品制备技术分享 报告人：董鑫 测试中心助理实验师 时间：2023年5月30日（周二）9:30 主办方：中山大学 直播链接：蔻享--共享科学、传播科学 [图片]
解读高分辨电子显微图片
科研工作者
高分辨透射电子显微术(high resolution transmission electron microscopy，简称HRTEM或HREM)是相位衬度(高分辨电子显微像的衬度是由合成的投射波和衍射波之间的相位差形成的，称为相位衬度(phase contrast)。) 显微术，它能得到大多数晶体材料的原子排列像。 高分辨率透射电子显微术始于20世纪50年代，1956年J.W.Menter 用分辨率为8 Å透射电子显微镜直接观察到酞菁铜间距为12Å的平行条纹，开启了之后的高分辨电子显微术的大门…