虽然
透射电子显微镜(TEM)
能在纳米尺度上实现对待测样品
形貌、 尺寸的分析
; 结合选区电子衍射(SAED),可以更进一步实现对待测样品的
晶体结构、 晶相组成的鉴定
,从而提高样品分析的准确度和可靠性。可是,每个刚接触TEM的小白,看到数据总会问师兄师姐们,我这个该如何下手,是不是?
一张好的TEM图能让你的paper更自信更完美。 接下来我们分享一下
如何用DM软件标定看到就头疼的SAED图
。通常说的图如下,DM文件和图片文件都可以打开。
第一步
标尺长度标定:
主要利用
standars tools
中的长度测量功能;具体操作为点击鼠标左键,选择起点,按住不要松拖动到目标长度,松开后出现profile of 对话框。
然后在
profile of
对话框中点击左键不要松,拖动可选择沿图像中已知线条(图中蓝色线条包围区域)任意长度距离的线条(图中红色箭头包围区域)。在线条的中间显示出所选区域所占长度单位。再测量出标尺长度。图中为810单位长度,即在图像中810单位长度代表实际的10 nm-1 。也就是说81单位长度代表1 nm-1 。
虽然透射电子显微镜(TEM) 能在纳米尺度上实现对待测样品形貌、 尺寸的分析; 结合选区电子衍射(SAED),可以更进一步实现对待测样品的晶体结构、 晶相组成的鉴定,从而提高样品分析的准确度和可靠性。可是,每个刚接触TEM的小白,看到数据总会问师兄师姐们,我这个该如何下手,是不是? 一张好的TEM图能让你的paper更自信更完美。 接下来我们分享一下如何用DM软件标定看到就头疼的SAED图。通常说...
研究和使用晶体材料时发现,材料内发生的过程和性能与晶体的某些方向(晶向 crystallographic directions)和原子构成的平面(
晶面
crystallographic planes)有关。目前,通常用三个或四个
指数
来表征晶向和
晶面
,称为密勒
指数
(Miller Indices)。
标定
密勒
指数
时以晶胞为基础,x, y, z三轴系统的原点O放在晶胞的一个角上,三个轴与晶胞的三个边相重合(如图2.2-1所示)。对斜方、三斜晶系等,三个坐标轴则互相不垂直。 图2.2-1 晶胞与三轴坐标系 晶向 晶向可用点阵中两阵点间的连线或矢量来定义。三
指数
晶向可按例2.2